產品品牌：上海西光

產品型號：EF-II

測量范圍：2μm

測量精度：1μm

電源電壓：5V

一、用途EF—II 薄膜厚度測定儀，主要用于測定金屬薄膜涂層的厚度，該儀器采用非接觸式兩次對焦的光學測量法，附以最先進的電子對焦系統 * ，使得測量的重復誤差在 1-3μm 之間，利用 CCD 加監視器觀察圖像，比人眼觀察更客觀。該儀器使用方便、操作簡單、測量誤差小、精度高，廣泛應用于電子工業、塑料、橡膠、機械等行業。二.規格 1.物鏡:20X、40X 2.總放大倍數：600X、200X （ 480線CCD ） 3.工作距離：95mm 4.工作臺：30 × 70mm 5、最大測量厚度： 2mm6、重復測量誤差：1-3μm三．儀器的成套性 1.主機：一臺 2.CCD 攝像頭一個 3.CCD 適配鏡一個 4.移動工作臺一個 5.內置電子對焦系統一套 6.數字式千分表一個 7.監視器一臺