簡介 該設備專門用于太陽能單晶硅和多晶硅太陽電池組件的測試。通過光譜輻照，對組件相關的電子參量進行測試。 主要技術參數 模擬光源高效率脈沖氙燈(單脈沖能量≥1200J)光不均勻度±3%測試范圍2×2m測試值域20~240W20~300W數據收集速度2ms數據收集數量8000點–IV曲線測試不穩定性≤1%測試負荷10A/50V測試不精確性≤3%參數測試VocIscPmImVmFF 優點 ?大功率脈沖氙燈?光強度5%?10A/50v高速電子?2000對數據點?高速數據收集IV曲線?最大可測量的功率200W?測量速度10分鐘/件?測量穩定0.5%?Windows接口?大測量區域1500mm*1500mm