詳細資料： Agilent8509C光偏振分析儀覆蓋L波段，可對光信號和元件進行寬工作范圍的測量。自動的測量步驟簡化了PMD、PDL和保偏光纖對準。對于10至40Gb/s測試，8509C可測量至0.01ps的偏振模式色散。對光信號和材料偏振特性的快速和精確的測量可幫助開發更高性能的光元件和系統，以及低成本的制造流程。