產品描述 光譜分析儀ASF01-FTB-5240B詳細說明 產品說明光譜分析儀主要用于對密集型波分復用(DWDM)系統中的光器件如合波器、分波器、光放等器件的光參數進行測量和分析，能夠顯示各波圖形并具有自動校準功能。主要測量和分析的光參數有：波長參數：中心波長、平均波長、－20dB帶寬、截止帶寬等參數。功率參數：峰值功率、總功率、信噪比，邊模擬制比、增益平坦度等參數。1.波長指標(1)波長范圍1250～1650nm(2)絕對精度無外部校準光源條件下≤±0.03nm用戶校準模式下≤±0.015nm(3)波長線性度（在C和L段全范圍）≤±0.01nm(4)分辨率帶寬(FWHM帶寬)最小分辨率帶寬小于0.033nm(5)調整重復性±0.003nm2.光功率指標(1)線性度≤±0.1dB(2)平坦度(1530～1570nm)≤±0.1dB(3)偏振相關性(1550nm)≤±0.15dB(4)靈敏度(1550nm)≤-75dBm(5)光抑制比（ORR）0.1nm≥35dB0.2nm≥48dB0.4nm≥50dB(6)最大輸入功率：+20dBm3.信噪比測試精度(連續波)≤±0.6dB測試范圍(0.1nm帶寬)≥35dB4．光譜儀主要測試功能：光譜儀應具有如下測試模式：1）WDM測試模式：能夠顯示如下指標：中心頻率、20dB帶寬，通道信號功率、總功率、信號功率平坦度、信噪比2）EDFA測試模式：能夠顯示如下指標：噪聲指數、信號增益、增益平坦度、輸入信號平坦度、輸出信號平坦度3）激光器測試模式：能夠顯示諸如DFB激光器相關指標：包括峰值功率、中心波長、邊模抑制比，xxdB帶寬等；以及FP激光器相關指標4）譜損測試模式：能夠測試諸如DWDM合波器、分波器等無源器件指標：濾波器峰值波長、插損、插損平坦度、濾波器3dB和20dB帶寬5）漂移測試模式：用于測試WDM系統長時間中心頻率、通道功率、信噪比的變化6）曲線比較模式：該模式可以將不同時間測試的曲線結果進行比較，可用于測試WDM系統維護中系統老化的分析。內容包括中心頻率變化、通道功率變化。應答：滿足7)超級波分測試功能：儀表應能夠具有對預啁啾DWDM信號測試功能。5．掃描時間：掃描周期(全范圍數據分析)≤1.5s