N4PLUS納米顆粒粒度分析儀原產地：美國BECKMANCOULTER技術參數：測量范圍：1-5,000nm測量時間：30-180秒重現性：優于3%CV粒度分布：可區別平均粒度比大于2.5的兩個峰精度：2-5%樣品溫控范圍：0-90℃±0.1℃數據輸出：平均粒度、粒度分布、擴散系數及平均分子量激光源：10mWHe-Ne激光器，波長632.8nm探測器：六角度探測器主要特點：　　N4Plus是采用激光法測超細顆粒的粒度分析儀，激光法測顆粒度，是基于ISO13321標準分析顆粒粒度的一種方法，即利用運動著的顆粒所產生的動態的散射光，通過光子相關光譜分析法PCS(PhotonCorrelationSpectroscopy)分析納米顆粒粒度，其特點是快速、準確、分辨率高。是同類產品中唯一采用六個角度（在0-900C角度范圍）檢測的儀器獨有的指紋分析給出六角度的Unimodal分析圖，快速判別樣品類型