分析儀型號：ZDK-AV5271ZDK-AV5271型ATM分析儀為便攜式模塊化結(jié)構(gòu)，具有雙路E1、E3、STM-1電或STM-1光等物理接口，可進(jìn)行ATM業(yè)務(wù)仿真、網(wǎng)絡(luò)損傷仿真、GCRA業(yè)務(wù)整形與測試、O.191QoS測試、信元過濾與捕獲、UNI/NNI協(xié)議解碼以及全面的物理層誤碼和告警測試。可應(yīng)用于ATM設(shè)備的研制以及ATM網(wǎng)絡(luò)的建設(shè)、開通和維護(hù)。主要特點　o雙端口，模塊化結(jié)構(gòu)　o全面的物理層誤碼和告警插入/測試　o多種業(yè)務(wù)分布模型以及優(yōu)先權(quán)控制、GCRA整形　o每端口可同時測試2046個通道　o4種網(wǎng)絡(luò)損傷仿真　o測試功能全面：包括發(fā)生器統(tǒng)計、GCRA測試、O.191QoS測試、信元流統(tǒng)計、信元捕獲與協(xié)議解碼等主要功能與技術(shù)指標(biāo)　(1)雙E1、E3、STM-1電或STM-1光收/發(fā)接口，符合ITU-TG.703標(biāo)準(zhǔn)　(2)碼型：AMI、HDB3、CMI、NRZ(光口)　(3)支持的幀結(jié)構(gòu)：G.704E1幀(PCM30、PCM30+CRC、PCM31、PCM31+CRC)、E1PLCP幀、G.751E3幀、G.832E3幀、E3PLCP幀、G.708STM-1幀　(4)誤碼產(chǎn)生和測試：編碼誤碼、幀誤碼、PLCP幀誤碼、PLCPBIP誤碼、PLCPFEBE誤碼、B1、B2、B3、MS-REI、HP-REI、HP-IEC　(5)告警插入和測試：LOS、LOF、AIS、RAI、PLCPYELLOW、PLCPLOF、PLCPOOF、MS-AIS、MS-RDI、AU-LOP、AU-AIS、HP-RDI　(6)具有STM-1指針產(chǎn)生和測試功能　(7)可產(chǎn)生適配層為AAL1、AAL2、AAL3/4、AAL5及RM、OAM和O.191等信元　(8)具有多種業(yè)務(wù)分布模型和優(yōu)先級控制　(9)按照GCRA算法對業(yè)務(wù)進(jìn)行單/雙漏桶整形和測試分析　(10)能自動識別最多2046個測試通道　(11)子業(yè)務(wù)流QoS測量，每個通道可同時分析最多達(dá)2046個子業(yè)務(wù)流，包括實時業(yè)務(wù)統(tǒng)計、信元丟失計數(shù)、信元丟失率、信元誤插計數(shù)、信元誤插率、錯誤信元計數(shù)、錯誤信元率、信元計數(shù)、信元傳遞延遲和信元延遲變化等　(12)多種信元過濾和捕獲功能，可按100%線路速率捕獲多達(dá)1百萬個信元　(13)信元流統(tǒng)計、AAL5包統(tǒng)計　(14)網(wǎng)絡(luò)損傷仿真功能，能進(jìn)行信元錯誤、信元丟失、信元延遲和信元延遲變化的損傷插入　(15)可進(jìn)行ATM層及UNI、NNI等協(xié)議解碼,解碼符合ATMForumUNI3.0、UNI3.1、UNI4.0，ITU-TQ.2931、Q.2110、Q.2130、Q.2140、Q.2764等標(biāo)準(zhǔn)