FLBQ激光光束分析儀系統簡介 1、儀器主要功能FLBQ激光光束質量分析系統能夠測量激光光束的二維和三維分布（長短軸大小、光強的空間分布），配合精密刻度導軌能計算出激光光束的1/2發散角和1/e2發散角。不僅適用于小發散角（如固體、氣體激光器等）的測量而且適用于大發散角的半導體激光器。 (1)圖象獲取功能 實時采集：可隨時監測光束強度(功率、能量)的二維分布、給出三維分布圖及通過光束內任一點的沿X-Y方向的光強分布曲線，并顯示直徑等參數。 圖象 凍結 ：可根據需要捕獲典型的光束圖象，作為TIFF文件存貯，供分析處理。 連續及脈沖圖象的 抓取 ：具有 軟觸發 功能，其軟觸發閾值可以調節。它不需要觸發電脈沖，增加了使用的方便性和安全性，特別是對于Q開關脈沖激光器的場合，由于不需要電腦與激光器之間的電信號相接，減小了硬件損壞及相互干擾的可能性。 (2)分析測量功能 二維光束截面功率、能量分布； 光束截面功率、能量的三維圖(任意方位角，俯仰角)； 通過光束截面內任一點沿X，Y方向的光強分布； 不同定義下的光束直徑及與高斯分布的符合程度； (3)其它功能 自動反差調整功能 快速連續取、放多幅圖象 打印功能 將屏幕上顯示的內容或被選取的部分 所見即所得 地打印出(可與激光、噴墨等多種型號打印機適配)。 2、主要技術指標a) 測試波長范圍：（可選）；型號波長測量范圍(nm)發散角測量精度激光最大功率（W）LBQ-400-1100400-1100 5%100WLBQ-190-1310190-1310 5%100WLBQ-1440-16051440-1625 5%100WLBQ-900-1700900-1700 5%100WLBQ-400-2200400-2200 5%100W b)測試激光功率范圍：0.01mW~100W(CW)；c)最大測量光斑直徑:60mm；d)測量暗箱采用吸光材料，以消除雜光干擾；e)光學元件置于光學精密調節架上，以保證其平穩調節；f)光學暗箱外形尺寸:624mm 360mm 160mm。3、光路原理(1)原理框圖激光器 光學暗箱 顯示器PC機:圖像采集卡系統軟件包 (2)暗箱光路 4、主要配置部件名稱數量型號或功能描述計算機主機1采用pc機，內置顯卡、聲卡、預裝WinXP操作系統顯示器119吋液晶顯示器CCD11適合于400-1100nm測試CCD21可選。圖像采集卡1數據采集。精密測試道軌2用于器件固定與移動高級中性濾光片3用于衰減大功率激光（三片，擰到CCD上直接使用）。附加濾光片（整套）1補充衰減鏡頭1CCD專用（需配合投射屏使用）導軌與支架（整套）1用手移動光學器件，測試距離。固定光學器件等紅外感光卡片1用于調試光路