儀器簡介　　Bruker全新設計的新一代直讀光譜儀Q2 ION在金屬材料分析的便捷性和簡易性上，帶來了一場新的革命。Q2 ION是現今市場上最為輕巧的高性能直讀光譜儀。源自顛覆性的設計理念，緊湊的體積和強大的分析功能得以完美地融合。Q2 ION可同時配備多種基體,適用于金屬行業中的來料檢驗及質量控制，同時，儀器極具誘惑力的價格定位及較低的運行成本無疑使其在眾多中小企業中備受青睞。Q2在許多應用，例如鐵基、鋁基和銅基材料的分析中涵蓋所有的重要元素，能夠很好地滿足中小鑄造企業，金屬加工企業，質量管理部門，原料堆放倉庫，金屬回收企業，甚至檢測機構的分析要求。主要特點獨特的設計使得Q2 ION的重量只有不到20kg，可輕易攜帶到周邊的場所進行現場分析工作。除此之外，儀器還有專用配套的行李箱可供用戶選擇，以方便儀器的攜帶及運輸。Q2 ION采用了最新專利技術 平面視場CCD光學系統，該技術使得Q2 ION的設計突破了傳統光譜的桎梏。光學系統所配備的動態溫度補償技術（AAC），確保儀器即便在10 C至45 C之間的外界溫度變化下也具有極其優異的穩定性。技術參數　專利光學系統非渡膜CCD檢測器，具有最低的暗電流平面光柵波長覆蓋范圍：170-685nm分辨率：30pm氬氣驅氣以確保最佳光通量。譜圖解析技術動態溫度補償技術，確保在10至45度的外界溫度下具有最佳的穩定性分析方法組件可應用于各種不同基體覆蓋所有主要元素及合金類型適應未來升級需要激發源免維護，兩相ＰＷＭ激發源頻率５０－１０００Ｈｚ火花臺免維護檢測期間氬氣消耗２．５ｌ／ｍｉｎ軟件給予Ｗｉｎｄｏｗｓ的操作軟件用戶分級權限定性及定量分析操作軟件含分析數據庫及辦公軟件接口牌號庫功能電源１００－２４０Ｖ（５０／６０Ｈｚ）檢測期間２００Ｗ，待機時５０Ｗ１６Ａ慢融保險絲或２５Ａ慢融保險絲尺寸長Ｘ寬ｘ高：４４０ｍｍ ３９０ｍｍ ２２０ｍｍ重量：１９ｋｇ．