EXF7200型光譜測金儀技術參數硬件獨特性:符合最嚴格的輻射防護標準的同時更具備簡易的樣品放置和耗材更換模式。探頭指標高，性能好，壽命長；全新32位軟硬件系統，工作可靠，效率高；配備高清晰的攝像定位系統，測量更直觀、方便、快捷。配置固定樣品用多軸向夾具。儀器系統參數液晶顯示屏，操作人員可隨時通過顯示屏，觀察到設備內部硬件的參數，例如電壓﹑電流﹑溫度等，能有效延長設備壽命。儀器市場負責人周艷13682384615。激發源：Mo靶的X光管風冷(無輻射）測量點尺寸：1～2mm樣品室:長400mm×寬:300mm×高:0～90mm樣品放大成像系統軟件：菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算計算機：選擇配置檢測器：固定式半導體封氣正比計數器微處理器控制的檢測器和讀出電路其它規格： 電壓:100～127或200～240V,50/60Hz 最大功率:128W 最大處尺寸:490mm*500mm*350mm 重量:20kg技術指標 分析范圍：0.3%～99.99% 測量時間：自適應 測量精度：±0.1% 測試環境：常溫常態 分析元素：Au、Ag、Pt、Pb、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、Cd﹑W X射線源：X射線光管 高壓器：4～50Kv 分析：多通道模擬 操作系統:Windows2000/Me/XP鍍層測量： 鍍層厚度范圍 30 micro;m 可測量元素種類：Au、Ag、Pt、Pd、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、Cd 最大測量層數：5層 測量精度：0.03 micro;m