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公司基本資料信息
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SJ200系列高度計可廣泛適用于產品計量、多點檢測、測量設備監測和位置測量等眾多領域,對長度、間距、厚度、高度或直線位移進行快速、準確的測量。
一、 結構原理
本儀器包括高精度光柵裝置、密珠導軌的測量桿裝置、高性能的高速采樣等。
SJ200系列高度計采用高精度光柵,即玻璃基體的增量式光柵尺作為測量基準,所以支持大量程的測量。測量基準對震動和沖擊不敏感,并具有確定的穩定特性。
增量光柵尺的掃描方法為光電掃描,因此無機械接觸也無磨損。電子設備對輸出信號進行細分至納米級的極小測量步距,從而確保一個信號周期內微小位置誤差。
二、 性能特點
u 測量精度高(高精度進口光柵、高精度導軌);
u 可靠性好(經過10萬次重復性實驗);
u 檢測速度快:快速檢測、示值穩定;
u 校準方便;
u 采用密珠導軌的測量桿能夠承受很高的徑向力且運動摩擦力極小;
應用廣泛,自動檢測設備、手動測量或定位設備-無論是長度、間距、高度、厚度或直線位移都可以快速、準確和可靠的測量。