產品品牌：上光

產品型號：數顯測量顯微鏡15JE

類型：光學顯微鏡

數顯測量顯微鏡 15JE一、用途： 測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍極廣，主要用途如下：1.直角座標中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線距離，刻線寬度，鍵槽寬度，狹縫寬度，通孔圓直徑等等。2.轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規，鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。3.用作觀察顯微鏡，以比較檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等。二、規格：

物 鏡		目 鏡		放大倍數	工作距離（ｍｍ）	視場直徑（ｍｍ）
放大倍數	焦距（毫米）	放大倍數	焦距（毫米）
2.5X	43.40	10X	25.00	25X	58.84	5.6
10X	17.13			100X	7.81	1.4

三、測量工作臺讀數裝置主要規格x軸移動測量范圍： 50毫米y軸移動測量范圍： 13毫米數顯分辯率： 0.001毫米測量臺轉動范圍：不限測量臺刻度盤分度范圍：　0 ～360 測量臺刻度盤之分度值： 1 測量臺刻度盤游標讀數示值：　6 測量精度：儀器示值誤差(5 L/15)微米儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統誤差。注：測量地點溫度變化(20 3）℃；L-被測件長度（毫米）儀器之主要尺寸：測量臺與物鏡間之最大距離：80毫米測量工作臺直徑：120毫米儀器外形尺寸：高325 長262 寬220毫米儀器重量：約10.6公斤顯微鏡的目鏡管同棱鏡成為一體繞垂軸旋轉，顯微鏡可由調焦手輪進行上下調焦。