儀器的用途： XP-300系列透反射顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校最常用的專業實驗儀器。礦相顯微鏡主要研究金屬或非金屬礦物的光學、物理、化學性質等，借以鑒定礦物。是研究金屬礦石不可少的高檔偏光顯微鏡。 XP-300系列偏光顯微鏡可作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，配置有石膏 、云母 /4試片、石英楔子和移動尺等附件，是一組具有較完備功能和良好品質的新型產品.本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。技術參數1. 礦相顯微鏡主要參數名稱 規格 光學總放大倍數：40X---630X無應力透射和反射物鏡4X/0.110X/0.2525X/0.4040X/0.65彈簧63X/0.85彈簧目鏡10X十字目鏡10X目鏡補償器試片 石膏1 試片云母1/4 試片石英楔子試片測微尺0.01mm移動尺移動范圍30mm 40mm鏡筒三目觀察 (可接數碼相機、計算機系統) 2．偏光顯微鏡主機1. 起偏鏡:振動方向90度,可調2. 檢偏鏡:可移出光路,旋轉范圍90度,內置勃氏鏡,中心,焦距可調3. 調焦系統:帶限位和調節松緊裝置的同軸粗微調,格值0.002mm4. 6V/20W鹵素燈(亮度可調) 5. 濾色片：藍色 6.特有的防霉系統系統組成 電腦型偏光顯微鏡(XP-300V): 1、偏光顯微鏡 2、適配鏡 3、攝像器(CCD) 4、A/D(圖像采集) 5、計算機數碼相機型偏光顯微鏡(XP－300C): 1、偏光顯微鏡 2、適配鏡 3、數碼相機本公司經營偏光顯微鏡，質量保證，歡迎咨詢洽談。