CIT－3000SMP便攜式X熒光分析儀產品配置：采用進口的美國航天技術的Si（PIN）半導體探測器系列采用獨特專利數字脈沖采集電路及專利的電源管理技術采用進口的X光管采用進口的專用的X光管高壓電源采用精密的系統控制電路和數字處理電路采用專有的分析算法軟件模塊V2.0A配備專業的RoHS測試模式配備USB2.0藍牙適配器配備專用的制樣機配備專用的測試薄膜、測試樣杯配備專用的測試標樣一套?技術指標：?分析元素范圍：S-U；?元素含量分析范圍：0.0001%-99.99%（采用1024道多道分析器）；?采用美國航天技術Si(PIN)半導體探測器計數，能量分辨率極高，配合專利的數字脈沖處理技術， 分辨率可優于139eV； 測量范圍：2－30KeV；?測量下限：Cd：15ppm；Pb、Hg：10ppm；Br：10ppm；Cr：30ppm；(以塑膠標樣為例）；?精確的RoHS測試模式；?測量物質狀態：固體、粉末、液體均可檢測，制樣簡單；?校正方式：采用歐盟RoHS塑膠標樣校準數據；?重復性： 0.1%；?穩定性： 0.01%；?高壓：5kV-40kV（激發源為進口40KV-鎢靶微型X射線管）；?管流：5 A-200 A；?整機能量分辨率：150 5eV；?檢測時間：120S～240S；?整機功耗：4W；?儀器重量：3Kg；?一體化設計，性能穩定，運行可靠，性價比高；全中文應用軟件，操作簡單，測量時間短；同時配備PC機，分析儀通過無線藍牙技術可單獨和PC進行通信測試，方便攜帶和使用；?適用于電子產品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）和化合物痕量檢測及鋼鐵、鋁業、水泥、有色金屬、玻璃、耐火材料等行業全元素的快速檢測。