HS5660X型多通道噪聲/振動測量分析系統HS5660X型多通道噪聲振動測量分析系統HS5660X型多通道噪聲振動測量分析系統產品，實現了多通道噪聲和振動的測量和分析結果，在同一界面全面、直觀的顯現，為技術分析人員提供了一個可以直觀分析對比的技術平臺；以word方式自動生成圖文并茂的檢測報告，為廣大檢測人員提供了一種極其便捷的檢測報告輸出和編輯平臺。可以自主選擇的時域與頻域兩種、十一個類型的分析圖形，最大限度的滿足了日常檢測與分析的需要。扣背景測量功能：扣背景測量，是在精細頻譜數據基礎上進行的扣背景測量方式，突破了傳統意義上1/1或1/3倍頻程數據背景修正的局限性，使該功能應用于故障分析領域成為可能。扣背景測量方式，還可以應用于大多數背景相對穩定的噪聲和振動條件下，可以使噪聲和振動的檢測場應用范圍得以向下延伸（例如：可以突破消聲室的本底噪聲下限限制，測量更低的噪聲聲源！）在滿足抗干擾測量的基本條件下，該功能還可以應用于高噪聲或振動背景條件下的產品噪聲或振動的測量。主要應用范圍：電器、汽車及其部件、機械設備等行業或相應的科研院所、高校、質量技術監督、建筑質檢等部門。主要功能和特點：多通道實時噪聲、振動加速度、速度和位移測量；聲壓、聲壓級、加速度隨時間變化測量(時間歷程)；噪聲、振動扣背景測量；噪聲、振動測試通道自動校準；頻譜分析：多通道噪聲、振動同步FFT窄帶自功率譜分析；自動生成含有檢測分析數據、圖譜的檢測報告(word方式)；