X熒光光譜儀主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的無損、快速測定，它采用上照式，通過三維的移動和激光定位，實現對尺寸范圍較大部件進行鍍層厚度和含量的點測量應用領域：黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；貴金屬加工和首飾加工行業；銀行、首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。技術指標：元素分析范圍：從K到U一次性可同時分析多層鍍層分析厚度檢測出限最高達0.01um同時可分析多達5層以上鍍層相互獨立的基體效應校正模型，最先進厚度分析方法多次測量重復性最高可達0.01um長期工作穩定性小于0.1um（5um左右單鍍層樣品）溫度適應范圍：15℃~30℃輸出電壓220 5V/50HZ（建議配置交流凈化穩壓電源）配置開放式樣品腔二維移動樣品平臺探測器和X光管上下移動可實現三維移動雙激光定位裝置準直器自動切換裝置玻璃屏蔽罩正比計數盒探測器信號檢測電子電路高低壓電源X光管計算機及噴墨打印機樣品腔尺寸：517mm 352mm 150mm外型尺寸：648mm 490mm 544mm聯系方式聯系人：侯先生電話：15019420042】