2.1探測系統 1、探測器 制造商：美國Amptek公司生產 類型：電制冷Si-PIN探測器(采用PIN結構的高性能電致冷半導體探測器)型號：XR-100CR制造商：美國Amptek公司生產 Be窗厚度：1mil(0.0254mm)最佳分辨率：149 5eV系統峰背比： 5000/1能量響應范圍：1keV~40keV推薦計數率：5000cps（DP4PeakingTime=25.6us）2、信號處理系統DP4（與探測器高度集成） 放大器增益自動調整；脈沖成型時間自動調整；MCA通道數最高可達8K；每一通道總計數可達24位（16.7M） 2.2高壓電源圖 片生產商：美國Spellman公司生產型號：MNX50P50輸入電壓:DC+24V 10%輸入電流：4.0A（最大）輸出電壓:0-50Kv@1mA最大功率：50W電壓調整率：0.01%（從空載到滿載）電流調整率：0.01%（從空載到滿載）紋波系數：0.1%（P-P值） 2.3 X光管圖 片制造商：遼寧丹東科維電 壓:0~50kV最大電流:1.0mA最大功率:50W燈絲電壓:2.0V@50kV/1mA燈絲電流:1.7A射線取出角：12 靶 材：MoBe窗厚度：0.5mm 2.4微動平臺與高分辨率CCD 載物測試平臺，配有微調裝置，可方便的實現檢測物的定位與檢測區域的調整。120萬像素的CCD攝像頭，可有效的實時觀察測試區域狀況，并拍下物料照片，作為檢測報告的組成部分。 2.5散熱系統高效三維散熱系統，大幅度提供儀器的可靠性、穩定性2.6防輻射安全系統三重射線防護系統（軟件聯鎖、硬件聯鎖、整機迷宮式設計），開蓋測試自動警示系統。2.7儀器操作軟件功能 1、可以對RoHS指令中的五種有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr）鹵數（Br，Cl）進行精準測試；2、分析方法：綜合應用經驗系數法、基本參數法；3、開放性工作曲線：用戶可很方便的建立針對性的風險物料專用曲線，提高工作曲線與風險物料的對應性，從而全面提高檢測精度，提高允收判定的準確性。4、分析報告：多種語言格式(簡體中文繁體中文英文等)及文檔格式報告，如Excel、PDF等，預設標準模板，用戶還可自定義模板格式，所有文檔可自由打印和保存；5、數據自動保存：所有樣品測試后的數據均會自動保存，測試結果具有可追溯性；可以很方便的進行歷史譜圖與現測譜圖的對比，從而發現來料的變化趨勢，建立更高的風險防范能力。6、穩定性自檢功能：可即時對儀器當前穩定性進行自動測試；7、軟件安全聯鎖，對誤操作等造成的輻射泄露實現即時的X射線切斷處理。保證操作人員意外輻射安全。8、操作界面多語種:英語、簡體中文、繁體中文等。2.8升級與選配1、用戶另行購置多元素分析軟件測試范圍擴展到S U；2、用戶另行購置鍍層測厚軟件，可進行鍍層測試；3、用戶另行購置六價鉻測試儀可實現六價鉻定量檢測；2.9儀器技術參數1、儀器尺寸：640(W)x474(D)x412(H)mm 2、樣品腔尺寸：小樣品腔：300*300*100mm； 大樣品腔：無限制，小于30公斤3、重量：約48Kg4、工作環境溫度：溫度15 30℃5、工作環境相對濕度： 85%（不結露）6、可分析元素范圍：K-U7、最低檢出限：Cd/Cr/Hg/Br 2ppm,Pb 5ppm Cl 50ppm8、測量時間：120-200s(系統自動調整)9、最佳分辨率：149 5eV10、輸入電源：AC220V 10%，50Hz11、額定功率：800W