X-Strata980(X熒光鍍層測厚及元素分析儀)產品簡介：X-Strata980結合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態探測器確保極佳的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產品滿足環保要求，幫助企業降低高昂的產品召回成本和法令執行成本。您可以針對您的應用選擇最合適的分析模型：經驗系數法、基本參數法或兩者結合。這款儀器能對電子產品上的關鍵組裝區域進行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區域，即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規則的樣品，大艙門使樣品更易放入。應用:--RoHS/WEEE--有害元素痕量分析--焊料合金成分分析和鍍層厚度測量--電子產品中金和鈀鍍層的厚度測量--五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量--貴金屬合金分析和牌號鑒定產品特點:--100瓦X射線管--25mm2PIN探測器--多準直器配置--掃描分析及元素分布成像功能--靈活運用多種分析模型--清晰顯示樣品合格/不合格--超大樣品艙--同時分析元素含量和鍍層厚度技術參數:--元素范圍:S(16)toU(92)--可測鍍層層數:5層(4層+底材),可同時分析25種元素成份--X射線管功率:100W(50kVand2mA)微焦點鎢靶X射線管--探測器:25mm2PIN電制冷固態探測器--濾波器/準直器:4種初級濾波器/最多安裝4種準直器規格(0.1,0.2,0.3,1.27mm?)--數字脈沖處理器:4096通道數字多道分析器,包含自動波譜校正和PulsePileRejection功能--電腦/顯示器/系統軟件Celeron,1.86GHz,40GbHD,512MbRAM,相同或更高配置15”LCD,1024x768MicrosoftTMXPSP2--攝像系統:1/2”CMOS-640x480VGAresolution--電源:85~130Vor215~265V,頻率47Hzto63Hz--工作環境:10－40℃、相對濕度小于98%，無冷凝水--XYZ軸行程:203x152x216mm(8x6x8.5”)--最大樣品尺寸305x390mm(12x15.4”)，樣品高度為50mm(2”)305x352mm(12x13.9”)，樣品高度為203mm(8”)--艙室尺寸:(WxDxH):584x508x220mm(23x20x8.7”)--外型尺寸高765mm(30.1”)寬700mm(27.5”),840mm(5.5”)withonemousepadextended深790mm(31.1”),990mm(39”)withkeyboardtrayextended--重量:135kg昆山富萊儀器產品咨詢熱線：0512－55182520 13584988281