Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS原素分析儀是在XRF-2000系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質檢測的功能，其物點為：高分辨率，固態探測器； 分析有害物質，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優化的應用； 測量多層鍍層或錫鉛成分分析；電鍍溶液分析；定性分析超過30種元素,能夠測量液體，固體，粉末，薄膜和不規則形狀；貴金屬元素含量和分析（金，銀，鉑，和珠寶）；自動過濾器，多準直儀(五個準直器，從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺；性價比超強的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器