修造在產業領導、可靠性和表現的一個固定基礎，與新的三倍軸探測器的Agilent5975C系列GC/MSD合并重大產品提高改進分析表現和采取您的實驗室到下個生產水平。高溫，堅實惰性離子源促進生產力私有的惰性來源履行三個根本要求。惰性使活躍，中立分子減到最小損失從GC的。高溫(350?C)支持優秀高峰形狀甚而高沸騰化合物的和使從高沸騰矩陣的污穢減到最小。一個新穎的透鏡元素優選地延伸到四極對調動離子入RF/DC領域的中心最高的S/N的在產業。黃金本位制四極的設計和表現獨特的四極有未被超越的表現和可靠性。不管操作溫度，這個真實的雙曲線石英結構將給更低的領域錯誤，更好的決議和雄偉許多軸穩定。實際上，整體石英的卓越的穩定準許分析儀溫度由?C保證分析儀潔凈在MSD的生活中的200決定。三倍軸探測器三倍軸取向安置HED-EM加倍off-axis從傳輸四極的軸。這演變變動允許離子匯集是最大化(增加的信號)，并且在off-axis探測器之下將減少的中立噪聲設計。探測器也介紹與增加的放大作用和長壽的一個新的三倍渠道乘算器。EM的Agilent的新的獲取正常化的優化保證在離子計數、線性和EM之間的優選的平衡估計壽命。此外，獲取正常化意味在EM和一致的離子的老化的期間一致的敏感性計數在多個GC/MSD系統之間。蹤影離子偵查和重疊合法報告軟件(DRS)的第二代提供痕量分析的真正的表現改善在復雜矩陣追蹤離子偵查數位過濾從基礎線、峰頂和光譜的噪聲改進偵查有或沒有DRS。為coelution問題在最復雜的樣品發現了，NISTAMDIS的重疊合法力量是為痕量分析的最后工具由GC/MS。在重疊合法以后， 被清洗的 光譜提供更好的圖書館查尋結果，并且量化根據deconvoluted峰頂減少在MS目標離子的錯誤。ChemStation充分地集成AMDIS結果QEdit，并且報告起作用，因此分析員能迅速比較標準和deconvoluted結果。使用蹤影離子偵查和DRS，方法檢測極限(MDL)和極限測量(LOQ)是更低的。假陽性和錯誤地否定為對數據的最高的信心減少。高性能選擇的離子監視(SIM)和充分的掃瞄同步SIM/Scan功能奪取SIM數據和在同樣承購的充分的掃瞄數據，沒有在分析表現的妥協。SIM停留時間可以從100msec到在1msec增加的1msec被設置。AutoSIM改變信仰者自動地掃描數據入SIM或SIM/scan承購參量挽救方法的設定時間與許多峰頂。改進生產力，低成本并且增加分析力量的毛細流動技術與惰性，低大量，低死容量設備和無泄漏的第5個世代EPC，在烤箱連接創造了提高能力和表現的許多GC配置。對于對與晚洗脫的矩陣峰頂的復雜樣品的GC/MS分析，反沖洗是一個根本工具。更短的分析、較少來源清潔和更長的專欄生活是所有實驗室的可貴的好處。血絲分離機和教務長交換簡化并且改進補全偵查計劃的可靠性例如MSD-ECD和心臟切口方法。ChemStation控制，這些作用可以一樣定期地使用象最簡單的GC/MSD方法。GC/MS軟件幫助您做多數每奔跑和每個工作日AgilentMSD生產力ChemStation軟件使容易甚而對非專家操作員利用Agilent5975CGC/MSD的所有力量。先進的能力包括：二個GC/MS系統控制從唯一MSDChemStation的多才多藝的CTCPAL自動取樣器的聯合控制可能促進您的與自動化的樣品準備(可利用的選擇)的實驗室的產品。eMethods功能允許您分享和高效率地分布橫跨多個實驗室的方法或通過下載應用方法節省研制時間從Agilent網站。鎖的停留時間(RTL)不管操作員、探測器類型和專欄維護，給您橫跨系統的反復性的停留時間。與Agilent或用戶建立的數據庫的組合，它將迅速讓您篩選未知的峰頂有增加的信心。每次保證更加準確的結果的自動調整EI、PCI和NCI方式的。要估計未校正的化合物的集中的SemiQuant能力與企業內容管理(ECM)的綜合化使容易在您的實驗室存放，檢索和組織引起的所有電子數據-包括您的GC/MSD文件和報告。維護和可靠性特點模件分析儀匯編提供對細絲離子源的完全通入和更加快速的定期維護的電子乘法器。前面玻璃窗提供簡單的來源證明，并且重要連接一個完全看法。高可靠性真空系統保證最大長期表現;可利用的無油的泵裝置實際上消滅泵浦維護，減少噪聲，并且可以使用與腐蝕性氣體例如氨。與新的三倍軸探測器的完全5975C聯盟包括：經濟的5975CVLMSD-，常規分析的小腳印系統5975C惰性MSD-高性能，需求分析的全面貌特征的系統5975C惰性XLMSD-高性能，為復雜EI分析優選的全面貌特征的系統5975C惰性XLEI/CIMSD-最高水平可利用GC/MS的表現和的生產力專利設計金石英四極桿增強了性能和可靠性，最高1050u新的痕量離子檢測技術降低了復雜基質中的檢測限，提高了基線重復性。惰性離子源-現在可以程序升溫至350?C 增強了活性化合物和后洗脫組分的響應。同步SIM/掃描模式讓您在對感性趣離子進行高靈敏度選擇性監測的同時，獲得可進行譜庫檢索的掃描數據。新的氫EI信噪比指標，可以在更安全的條件下實現更快速的分析 不會影響分析質量所有電離模式都在一個自動化序列中；用標準EI離子源進行電子轟擊（EI）電離，AutoCI功能使CI像EI一樣容易高效與初級組件新的安捷倫7890AGC、6890GC，和6850GC達到了完美的互補。