學結構反射:d/8;SCI(鏡面光包含)/SCE(鏡面光不包含)可切換;d/8光學結構符合ISO和DIN標準;d/0之光學結構也符合CIE和ASTM標準穿透:d/0.偵測器硅光電二極管（40對組件）測量波長范圍360到740nm每間隔10nm精確度反射率從0到200%Resolution:0.01%光源脈沖氙弧燈（ 4）測量時間大約1.5秒.測量間隔時間4秒，當測量SCI/SCE時UV光調整/過濾瞬時數字化UV調整和400nm 420nm截斷穿透測量之樣品薄片,色板,或液體(裝在容器中)最大厚度不超過50mm再現性光譜反射率:標準偏差≦0.1%色差值:標準偏差 E*ab≦0.02(測量條件:執行校正后測量校正白板,測30次每次間隔10秒)機臺交換性(LAV)平均 E*ab0.15基于12BCRASeriesⅡ色板測量值與標準機臺比較.溫度影響光譜反射率:≦ 0.10%/℃色差值: E*ab≦0.05/℃通訊接口RS-232C電源AC120V/230V50/60Hz操作溫度/濕度范圍13to33℃;低于80%相對濕度(at33℃無冷凝)儲存溫度/濕度范圍0to40℃;低于80%相對濕度(at33℃無冷凝)體積(W H D)244 208 378mm（9-5/8 8-3/16 14-7/8inch.）重量12kg(26-7/16lb.)標準配置校正白板CM-A103;目標罩( 4mm)CM-A107;目標罩( 8mm)CM-A106；目標罩( 25.4mm)CM-A105;零點校正盒CM-A104;附件盒CM-A109;變壓器AC-A12;RS-232C通訊線CM-A52防塵罩；UnitDriver軟盤