量規：不能指示量值，只能根據與被測件的配合間隙、透光程度或者能否通過被測件等來判斷被測長度是否合格的長度測量工具。量規結構簡單，通常為具有準確尺寸和形狀的實體，如圓錐體、圓柱體、塊體平板、尺和螺紋件等。 常用的量規有量塊、角度量塊、多面棱體、正弦規、直尺、平尺、平板、塞尺、平晶和極限量規等。 用量規檢驗工件通常有通止法（利用量規的通端和止端控制工件尺寸使之不超出公差帶）、著色法（在量規工作表面上涂上一薄層顏料，用量規表面與被測表面研合，被測表面的著色面積大小和分布不均勻程度表示其誤差）、光隙法（使被測表面與量規的測量面接觸，后面放光源或采用自然光，根據透光的顏色可判斷間隙大小，從而表示被測尺寸、形狀或位置誤差的大小）和指示表法（利用量規的準確幾何形狀與被測幾何形狀比較，以百分表或測微儀等指示被測幾何形狀誤差）。其中利用通止法檢驗的量規稱為極限量規（如卡規、光滑塞規、螺紋塞規、螺紋環規等）。量規：不能指示量值，只能根據與被測件的配合間隙、透光程度或者能否通過被測件等來判斷被測長度是否合格的長度測量工具。量規結構簡單，通常為具有準確尺寸和形狀的實體，如圓錐體、圓柱體、塊體平板、尺和螺紋件等。 常用的量規有量塊、角度量塊、多面棱體、正弦規、直尺、平尺、平板、塞尺、平晶和極限量規等。 用量規檢驗工件通常有通止法（利用量規的通端和止端控制工件尺寸使之不超出公差帶）、著色法（在量規工作表面上涂上一薄層顏料，用量規表面與被測表面研合，被測表面的著色面積大小和分布不均勻程度表示其誤差）、光隙法（使被測表面與量規的測量面接觸，后面放光源或采用自然光，根據透光的顏色可判斷間隙大小，從而表示被測尺寸、形狀或位置誤差的大小）和指示表法（利用量規的準確幾何形狀與被測幾何形狀比較，以百分表或測微儀等指示被測幾何形狀誤差）。其中利用通止法檢驗的量規稱為極限量規（如卡規、光滑塞規、螺紋塞規、螺紋環規等）。 量規：不能指示量值，只能根據與被測件的配合間隙、透光程度或者能否通過被測件等來判斷被測長度是否合格的長度測量工具。量規結構簡單，通常為具有準確尺寸和形狀的實體，如圓錐體、圓柱體、塊體平板、尺和螺紋件等。 常用的量規有量塊、角度量塊、多面棱體、正弦規、直尺、平尺、平板、塞尺、平晶和極限量規等。 用量規檢驗工件通常有通止法（利用量規的通端和止端控制工件尺寸使之不超出公差帶）、著色法（在量規工作表面上涂上一薄層顏料，用量規表面與被測表面研合，被測表面的著色面積大小和分布不均勻程度表示其誤差）、光隙法（使被測表面與量規的測量面接觸，后面放光源或采用自然光，根據透光的顏色可判斷間隙大小，從而表示被測尺寸、形狀或位置誤差的大小）和指示表法（利用量規的準確幾何形狀與被測幾何形狀比較，以百分表或測微儀等指示被測幾何形狀誤差）。其中利用通止法檢驗的量規稱為極限量規（如卡規、光滑塞規、螺紋塞規、螺紋環規等）。 量規：不能指示量值，只能根據與被測件的配合間隙、透光程度或者能否通過被測件等來判斷被測長度是否合格的長度測量工具。量規結構簡單，通常為具有準確尺寸和形狀的實體，如圓錐體、圓柱體、塊體平板、尺和螺紋件等。 常用的量規有量塊、角度量塊、多面棱體、正弦規、直尺、平尺、平板、塞尺、平晶和極限量規等。 用量規檢驗工件通常有通止法（利用量規的通端和止端控制工件尺寸使之不超出公差帶）、著色法（在量規工作表面上涂上一薄層顏料，用量規表面與被測表面研合，被測表面的著色面積大小和分布不均勻程度表示其誤差）、光隙法（使被測表面與量規的測量面接觸，后面放光源或采用自然光，根據透光的顏色可判斷間隙大小，從而表示被測尺寸、形狀或位置誤差的大小）和指示表法（利用量規的準確幾何形狀與被測幾何形狀比較，以百分表或測微儀等指示被測幾何形狀誤差）。其中利用通止法檢驗的量規稱為極限量規（如卡規、光滑塞規、螺紋塞規、螺紋環規等）。