技術參數：垂直測量范圍 27mm垂直分辨率 2nm X-Y掃描速度 20mm/s 橫向X-Y軸分辨率 0.1 m 掃描范圍（XYZ） 150x150x60mm 其他信息：產品特點：適于測量較大樣品與拓展測量應用采用補償相機，可在測量前進行測量區域定位用于替代探針式輪廓儀和激光輪廓儀可選360度旋轉工作臺采用NANOVEAPRVision軟件實現自動定位測量采用白光軸向色像差技術，可獲得納米級的垂直分辨率測量具有非破壞性，測量速度快，精確度高不受環境光的影響不受樣品反射率的影響適合測量高坡度(85度)的表面樣品無需特殊處理Z方向最大測量范圍為27mm測量范圍廣，可測透明、半透明、低反射率、拋光、粗糙材料（金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發、牙齒...）