主要特點及優點直觀的、點擊式Windows 操作環境獨特的遠端前置放大器，將SMU的分辨率擴展至0.1fA新的脈沖和脈沖I-V能力用于先進半導體測試新的示波器卡提供集成的示波器和脈沖測量功能內置PC提供快速的測試設置、強大的數據分析、制圖與打印、以及測試結果的大容量存儲獨特的瀏覽器風格的軟件界面，根據器件的類型來安排測試，可以執行多項測試并提供測試序列與循環控制功能內置stress/measure、looping和數據分析用于點擊式可靠性測試，包括五個符合JEDEC的范例測試支持多種LCR表、吉時利開關矩陣配置與吉時利3400系列和安捷倫81110脈沖發生器等多種外圍設備包括驅動軟件，支持CascadeMicrotechSummit12K系列、KarlSussPA-200和PA-300、micromanipulator的8860自動和手動探針臺先進半導體支持包括吉時利提供的IC-CAP器件建模包驅動程序并支持CadenceBSIMProPlus/Virtuoso和SilvacoUTMOST器件建模工具 4200-SCS半導體特性分析系統-集成前沿的脈沖能力和精密DC測量，用于65nm節點及更小尺寸容易使用的4200-SCS型半導體特性分析系統用于實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析，具有高精度和亞fA級的分辨率。它提供了最先進的系統集成能力，包括完整的嵌入式PC機，WindowsNT操作系統與大容量存儲器。其自動記錄、點擊式接口加速并簡化了獲取數據的過程，這樣用戶可以更快地開始分析測試結果。更多特性使stress-measure能力適合廣泛的可靠性測試。 相關應用半導體器件片上參數測試晶圓級可靠性封裝器件特性分析C-V/I-V特性分析，需選件4200-590高頻C-V分析器高K柵電荷俘獲受自加熱效應影響的器件和材料的等溫測試Chargepumping用于MOSFET器件的界面態密度分析電阻性的或電容性的MEM驅動器特性分析光電子器件