4200-SCS型半導體特性分析系統-集成前沿的脈沖能力和精密DC測量，用于65nm節點及更小尺寸主要特點及優點 直觀的、點擊式Windows操作環境獨特的遠端前置放大器，將SMU的分辨率擴展至0.1fA用于高級半導體測試的新型脈沖與脈沖式I-V功能集成了示波與脈沖測量功能的新型示波卡內置PC提供快速的測試設置、強大的數據分析、制圖與打印、以及測試結果的大容量存儲獨特的瀏覽器風格的軟件界面，根據器件的類型來安排測試，可以執行多項測試并提供測試序列與循環控制功能內置了Stress/Measure，循環和數據分析功能，通過鼠標點擊方式就可進行可靠性測試，包括5個JEDEC規范的樣品測試支持Keithley590型與Agilent4284/4294型C-V儀、Keithley開關矩陣與Agilent81110脈沖發生器等多種外圍設備硬件由Keithley交互式測試環境（KITE）來控制，用戶測試模塊功能，可用于外接儀表控制與測試平臺集成，是KITE功能的擴充包括驅動軟件，支持CascadeMicrotechSummit12K系列、KarlSussPA-200和PA-300，Micromanipulator的8860自動和手動探針臺支持先進的半導體模型參數提取，包括IC-CAP和CadenceBSIMProPlus/Virtuoso 容易使用的4200-SCS型半導體特性分析系統用于實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析，具有高精度和亞fA級的分辨率。它提供了最先進的系統集成能力，包括完整的嵌入式PC機，WindowsNT操作系統與大容量存儲器。其自動記錄、點擊式接口加速并簡化了獲取數據的過程，這樣用戶可以更快地開始分析測試結果。模塊名模塊描述主要指標基本模塊4200-SMU4200源表模塊,用于I-V測試210V,100mA,2W4210-SUM4210源表模塊,用于I-V測試210V,1A,20W，精度0.1pA4200-PASMU前置放大器，加在SMU前端提供0.1fA的測試精度4200-CVUC-V測量單元1pf-1uf,1k-10Mhz4205-PG2雙通道脈沖發生器1hz-50mhz，+/-40V，min-width10ns4200-SCP21.25G雙通道示波器卡帶寬750Mhz，10V4200-SCP2HR200M高精度雙通道示波器卡帶寬250Mhz4200-PIV-A單脈沖I-V測試套裝PG2+SCP2+RTB24200-PIV-Q雙脈沖I-V測試套裝4200-FlASHN-Flash測試套裝其他選配4200-RBT外置偏置電壓合成器707A半導體開關矩陣主機708A單槽開關矩陣主機4200-SCP2-ACC70Mhz探針70718x12通用開關矩陣卡70728x12半導體開關矩陣卡7072-HV8x12高電壓半導體開關矩陣卡7174A8x12高速度，低電流開關矩陣卡