容易使用的4200-SCS型半導體特性分析系統用于實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析，具有高精度和亞fA級的分辨率。它提供了最先進的系統集成能力，包括完整的嵌入式PC機，WindowsNT操作系統與大容量存儲器。其自動記錄、點擊式接口加速并簡化了獲取數據的過程，這樣用戶可以更快地開始分析測試結果。更多特性使stress-measure能力適合廣泛的可靠性測試。主要特點及優點 集成前沿的脈沖能力和精密DC測量，用于65nm節點及更小尺寸 直觀的、點擊式Windows 操作環境 獨特的遠端前置放大器，將SMU的分辨率擴展至0.1fA 新的脈沖和脈沖I-V能力用于先進半導體測試 新的示波器卡提供集成的示波器和脈沖測量功能 內置PC提供快速的測試設置、強大的數據分析、制圖與打印、以及測試結果的大容量存儲 獨特的瀏覽器風格的軟件界面，根據器件的類型來安排測試，可以執行多項測試并提供測試序列與循環控制功能 內置stress/measure、looping和數據分析用于點擊式可靠性測試，包括五個符合JEDEC的范例測試 支持多種LCR表、吉時利開關矩陣配置與吉時利3400系列和安捷倫81110脈沖發生器等多種外圍設備 包括驅動軟件，支持CascadeMicrotechSummit12K系列、KarlSussPA-200和PA-300、micromanipulator的8860自動和手動探針臺 先進半導體支持包括吉時利提供的IC-CAP器件建模包驅動程序并支持CadenceBSIMProPlus/Virtuoso和SilvacoUTMOST器件建模工具相關應用 半導體器件 片上參數測試 晶圓級可靠性 封裝器件特性分析 C-V/I-V特性分析，需選件4200-590高頻C-V分析器 高K柵電荷俘獲 受自加熱效應影響的器件和材料的等溫測試 Chargepumping用于MOSFET器件的界面態密度分析 電阻性的或電容性的MEM驅動器特性分析 光電子器件