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硅片缺陷觀測儀

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所在地: 北京
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更新日期: 2010-09-30 19:16
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【硅片缺陷觀測儀】詳細說明
【官方網址】http://www.henergysolar.com/product/hs-wdi.htm硅片缺陷觀測儀(HS-WDI),于對硅片的缺陷進行觀察,效果非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。實時對圖像進行分析、測量和統計,提高傳統光學儀器的使用內涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備,能更好的觀測和保存研究結果;硅片缺陷觀測儀-產品特點■適用于對硅片的缺陷觀察效果,非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等;■使硅片缺陷觀察工作簡單化,準確化,同時極大程度降低此項工作強度;■實時對圖像進行分析、測量和統計,提高傳統光學儀器的使用內涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備,能更好的觀測和保存研究結果;■使用1/2 CMOS感光芯片,具有體積小,技術先進,像素較高,成像清晰、線條細膩、色彩豐富;■傳輸接口為USB2.0高速接口,軟件模塊化設計;■有效分辨率為200萬像素;■所配軟件能兼容windows2000和windowsXP操作系統。硅片缺陷觀測儀-推薦工作條件■溫度:23 2℃■濕度:60%~70%■無強磁場、不與高頻設備鄰近典型用戶浙江昱輝、江西塞維LDK、常州天合等電子郵件咨詢:Sales@HenergySolar.com
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