簡介：品名稱：粉體阻抗測定系統MCP-PD51特色：﹢用於研究開發、品質管理第一線，執行粉體之物性管理﹢與阻抗率計Loresta-GP,Hiresta-UP連接，以測定廣範圍之粉體之低阻抗、高阻抗﹢樣品的交換、清掃簡單、可採一觸式著離探頭﹢各種粉體的形狀，粒徑分布之不同依壓力依存性把握其阻抗率及壓縮容積﹢測定及數據、備有達執行圖形化之軟體以供選購測定對象：金屬粉、碳粉類、陶磁粉 等導電性粉體　詳細描述：阻抗率自動測定系統特色：測定演算、數據處理，3次元圖形輸出完全自動化，可應用至基板尺寸650 650mm之長方形、圓形樣品， 邊緣之影響 被補正，依[MCC方法]測定例測定對象：ITO玻璃、薄膜，各種金屬薄膜、各種導電性薄膜、薄片型號：﹢低阻抗率型式：MCP-S620(650 650mm),MCP-S521(450 450mm)﹢高阻抗率型式：MCP-S600(400 400mm)