產品信息 基本型多層鎳型　測量原理　利用與鍍層、基材相對應的電解液、在一起電流所溶解　的厚度和時間成正比，來測定膜厚的一種測量方式（即　運用電化學中的庫侖法來測定膜厚）　1、測量厚度的原理和基本型相同。　2、測量電位差是利用不同鎳層之間的電位差異來反映各層鎳　　的厚度及層間電位差?！】蓽y定材料　可被電解液所電解的金屬鍍層，如：銅、鎳、鉻、鋅、　銀、金、錫等。　基本型儀器可測量的各種鍍種的厚度及多層鎳的層間電位差　測量范圍　0.03微米~99.99微米　厚度：0.03微米~99.99微米電位差：-100mV~+400mV　準確度　 10%　厚度： 10%電位差： 5%　復現精度　 5%　 5%　測量值表示　LED4位顯示，其中兩位為小數。打印輸出四位數字，其　中兩位為小數?！〕藫碛蠰ED4位顯示和4位打印輸出以外還有繪圖儀輸出電位　差曲線，繪圖儀輸出的圖形是在X軸代表電位(mV)，Y軸代表　厚度( m)的座標軸上顯示的比例曲線。　測量面積　A橡皮墊圈 2.5mmB橡皮墊圈 1.7mm　A橡皮墊圈 2.5mmB橡皮墊圈 1.7mm　性能特點　操作簡便，復現性好，可測量單層、復合層電鍍。　具有內置微電腦，直觀顯示各層厚度?！〔僮骱啽悖瑥同F性好，可測量單層、復合層電鍍。具有內置　微電腦，經過微電腦處理，直觀顯示各層厚度及電位差。　設備配備　主機、電解池、有機測量架、橡皮墊圈、標準樣板、打　印紙及支架、試劑瓶等　主機、電解池、有機測量架、橡皮墊圈、標準樣板、打印紙　及支架、試劑瓶、繪圖儀等注：另可附加測量小體積物體及線材的功能(體積、形狀、大小無限制)。