二探針測試儀 測試儀 型號：GSZ-RTS-7 二探針測試儀是運用二探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M標準而設計的，專用于測試半導體材料縱向電阻率的專用儀器。 儀器由主機、測試臺、二探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。儀器采用了最新電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。本儀器適用于半導體材料廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。技　術　指　標： 測量范圍