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單晶少子壽命測試儀 壽命測試儀 測試儀
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規 格： 行業標準 
單 價： 面議 
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供貨總量： 99999
發貨期限： 自買家付款之日起 3 天內發貨
所在地： 北京
有效期至： 長期有效
更新日期： 2010-09-30 18:18
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 【單晶少子壽命測試儀 壽命測試儀 測試儀】詳細說明
單晶少子壽命測試儀壽命測試儀 測試儀 型號：GSZ-DSY-II *.用于測量硅單晶的非平衡少數載流子壽命。 本儀器根據國際通用方法高頻光電導衰退法 的原理設計，由穩壓電源、高頻源、檢波放 大器，特制的InGaAsp／InP紅外光源及樣品 臺共五部份組成；*.測試單晶電阻率范圍： 10 .cm*可測單晶少子壽命范圍：20 S-5000 S；
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