梅特勒-托利多AB135-S電子分析天平的產品特點：采用高分辨率稱量單元，滿足用戶高精度的稱量需求AB-S/FACT采用溫度漂移及時間設置觸發的全自動校準技術(FACT)，有效消除環境溫度變化對稱量結果精確性的影響；AB-L采用內置砝碼自動校準，AB-S采用外置砝碼自動校準，確保稱量結果的精確性雙量程(DualRange)設計，滿足客戶對不同樣品精確稱量的需求采用背亮式液晶顯示屏(可讀性0.01mg型號除外)，方便用戶在不同稱量環境下讀取稱量結果全金屬鑄鋁制成的防化防撞擊機架，保證了天平的長期使用采用可拆卸的防風罩設計，實現天平的快速清潔標配機架塑料保護罩，避免散落樣品的腐蝕內置RS232C通訊接口，方便連接打印機和電腦等外圍設備既有簡單稱量，百分比稱量、計件稱量和動態稱量等內置應用程序梅特勒-托利多AB135-S電子分析天平的技術參數：型號可讀性最大稱量值重復性(s)線性秤盤尺寸(mm)防風罩有效高度(mm)外形尺寸(W*D*H)(mm)AB135-S/FACT0.01/0.1mg31/120g0.03/0.1mg1)±0.2mg2)φ80237245*321*344AB135-S0.01/0.1mg31/120g0.03/0.1mg1)±0.2mg2)φ80237245*321*344AB265-S/FACT0.01/0.1mg61/220g0.03/0.1mg1)±0.2mg2)φ80237245*321*344AB265-S0.01/0.1mg61/220g0.03/0.1mg1)±0.2mg2)φ80237245*321*344AB54-S/FACT0.1mg51g0.1mg±0.2mgφ80237245*321*344