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WGL光電輪廓儀(2007BCEIA金獎產品)

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規 格: 行業標準 
單 價: 面議 
起 訂:  
供貨總量: 99999
發貨期限: 自買家付款之日起 3 天內發貨
所在地: 山東 青島市
有效期至: 長期有效
更新日期: 2010-09-26 06:56
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詢價
公司基本資料信息
 
 
 
【WGL光電輪廓儀(2007BCEIA金獎產品)】詳細說明
應用范圍 光電輪廓儀的應用范圍很廣,它主要用于測量各種精密加工零件表面的微觀三維結構,如表面粗糙度;零件表面的刻線;刻槽的深度和鍍層的厚度等。具體地說,如量塊、光學零件表面的粗糙度;標尺、度盤的刻線深度;光柵的槽形結構;鍍層厚度和鍍層邊界處的結構形貌;磁(光)盤、磁頭表面結構測量;硅片表面粗糙度及其上圖形結構測量等等。由于儀器測量精度高,重復性好,具有非接觸和三維測量等特點,并采用計算機控制和快速分析、計算測量結果,本儀器適用于各級測試、計量研究單位,工礦企業計量室,精密加工車間和高等院校及科學研究單位等。 產品簡介儀器由倒置式改為正置式,更符合人們的操作習慣;應用CMOS代替CCD,省去圖象卡并提高了質量;用低壓電源代替高壓電源,節省了儀器成本;用國產的代替德國進口壓電陶瓷,解決了關鍵部件的進口難題;增加了自動步距和亮度校正程序,同時增加了局部放大三維立體圖功能; 表面微觀不平深度測量范圍:130?1nm 測量的重復性:sRa 0.5nm 測量精度:8nm 物鏡倍率:40X 數值孔徑:0.65 儀器視場 目視:f0.25mm 攝象:0.13X0.13mm儀器放大倍數 目視:500X 攝象(計算機屏幕觀察):2500X 接收器測量列陣:1000X1000 象素尺寸:5.2X5.2?m
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