梅特勒XS204超越系列精密分析天平梅特勒XS204超越系列精密分析天平是雙量程電子天平；梅特勒XS204超越系列精密分析天平超越系列分析天平展示世界領先的稱量性能、無與倫比的符合人體工學的操作體驗及先進的數據管理解決方案。XS204超越系列精密分析天平完全遵循行業法規的要求，確保更高的生產效率并使操作更安全。XS204超越系列精密分析天平采用高精度、高分辨率后置式傳感器，獲得準確稱量結果全自動校準技術（FACT）-溫度漂移觸發的天平自動內校，內置兩組砝碼實現線性誤差校準，確保稱量結果的準確性變量程專利設計（DeltaRange）和雙量程（DualRange）設計，滿足客戶對不同樣品的稱量需求革命性的網格稱量盤（SmartGrid）、懸浮在稱量室中的后掛稱量設計，獲得快速、穩定的稱量結果易巧稱量組件（ErgoClips），方便客戶使用不同去皮容器進行稱量觸摸屏技術（Touchscreen），方便天平稱量菜單和參數設置可移動的顯示控制終端，方便天平使用完全可拆卸的防風罩設計，實現天平的快速清潔內置RS232通訊接口，方便連接打印機、電腦等外圍設備優化天平適應性的稱量參數設置，滿足不同稱量環境要求具有簡單稱量、統計稱量、公式稱量、密度測定等內置應用程序e-LoaderII軟件，實現更便捷的天平軟件更新XS204超越系列精密分析天平技術參數XS204精密分析天平可讀性0.1mg最大稱量值220g最大稱量值重復性(s)0.1mg10g重復性(s)0.07mg線性 0.2mg1/2最大稱量1）四角誤差0.3mg靈敏度漂移0.0004%靈敏度溫度漂移2）0.00015%/℃靈敏度穩定性3）0.0002%/a典型稱量時間4）4s接口更新速率23/s防風罩有效高度(mm)235秤盤尺寸(mm)78 73XS204精密分析天平天平外形尺寸(W D H)(mm)263 453 322XS204精密分析天平按照OIML76標準 2）溫度范圍10 30℃ 3）靈敏度漂洗/年（天平首次使用后），激活FACT全自動校準技術 4）包括樣品處理時間設置