BTX-1智能半導體器件特性測量儀為了測量半導體分立器件特性由上海實博實業研制開發了本儀器。它將傳統的 半導體特性測試儀 濃縮成一個插卡（測試卡）形式，將其插入計算機的擴展槽中，在軟件的支持下，實現對半導體器件（晶體三極管、場效應管、可控硅元件、二極管等）快速測量，并可把結果存盤或打印。　　測試卡充分利用電腦的軟、硬件資源在電路設計上，以數字電路替代模擬電路組成階梯信號發生器，并設置了自校準電路，提高了測量的準確性，用軟件實現硬件的部分功能，降低硬件的成本。　　還設計了將測量數據進行二次數學處理的軟件，使得測量時不僅能在屏幕上顯示晶體管的輸出、輸入曲線，并且能自動顯示不同電流下的電流放大倍數、跨導、二極管的理想因子， －Ic曲線等等。　　工作電壓：AC220V 10% 50Hz 測量精度： ５％　　外形尺寸：350 280 80mm