Terra簡介Terra是全球首款便攜式X射線衍射(XRD)和X射線熒光(XRF)分析儀,由美國伊諾斯(Innov-X)公司開發(fā)生產(chǎn),其主要用于: (1)收集現(xiàn)場環(huán)境的巖石礦物數(shù)據(jù);(2)處理從X射線衍射模式匹配的數(shù)據(jù)文件中截獲的數(shù)據(jù),對X射線熒光進行定量分析或定性分析。 作為一款專為美國宇航局設計研發(fā)的用于火星車上礦物分析的新產(chǎn)品,先后成功搭載勇氣號、機遇號、鳳凰號等火星探測器登上火星并完礦物研究務。 Terra簡潔的設計,顛覆了傳統(tǒng)X射線衍射儀的構造,為XRD走向便攜式和環(huán)保節(jié)能開辟了道路;同時,總共14.5kg的重量,也為XRD從實驗室走向工廠和工程現(xiàn)場掃清了道路。Terra發(fā)展史 1996年,美國宇航局(NASA)把能在火星上進行礦物研究作為目標,于是在全球尋求XRD解決方案。經(jīng)過調(diào)研,傳統(tǒng)的XRD均不能滿足NASA火星項目,他們都具有體積龐大、重量重、耗能、需要冷卻系統(tǒng)、樣品顆粒需在2um、旋轉光學器件等來共性,任何一條都不能滿足火星上遠程、自動化、可靠性、準確性的的測量要求。1997年,美國宇航局組織麻省理工學院、加州理工學院、斯坦福大學、印第安納大學,著手實施NASA火星探測計劃XRD項目。經(jīng)過多年研究,耗費兩千多萬美元,終于研制出了滿足火星計劃的XRD,即為Terra系列。Terra在重量輕便、無線傳輸、安全可靠、數(shù)據(jù)準確、節(jié)能環(huán)保方面具有引領時代的技術優(yōu)勢。Terra三大技術突破 1.樣品晃動技術(已獲取專利):被測樣品放置在樣品震動室內(nèi)以6000HZ的頻率震動。其優(yōu)越性表現(xiàn)在:(1)省去了測角儀,儀器體積變小,使用簡單; (2)實現(xiàn)了特定衍射角度的篩選和多角度的測量; (3)避免了晶體特定的晶面取向,更符合統(tǒng)計學原理,檢測結果更準確;(4)樣品制備簡單,減少了研磨的麻煩: 樣品粒徑d 150um(Terra)vs. 1-2um(一般XRD) 不用把樣品做成顆粒狀;(5)檢測速度快; 3min(Terra)vs.15min(一般XRD) 不需專家操作,任何人都可以完成 (6)避免了樣品顆粒在重力作用下粘接形成大顆粒,影響檢測結果的準確性; 2.通過二維的CCD圖像傳感器(探測器)收集數(shù)據(jù),突破了傳統(tǒng)的連續(xù)移動掃描收集數(shù)據(jù)的方法,從而使得傳感器可以固定收集數(shù)據(jù)而不需要移動。其優(yōu)越性表現(xiàn)在 (1)避免了更多的X射線干擾; (2)同時收集X衍射圖譜和X射線熒光,進行XRD和XRF的同步分析3.無線接收數(shù)據(jù),遠程可靠。Terra應用領域及功能1.應用領域:(1)水泥 (2)醫(yī)藥 (3)地質(zhì)、礦產(chǎn) (4)石油化工 (5)考古 (6)刑偵 (7)藝術品鑒定 (8)環(huán)境保護 (9)海關檢測 2.主要功能:(1)對未知樣品物相的定性分析; (2)對特征樣品物相的定量分析; (3)晶格常數(shù)分析;(4)金屬薄弱點的應力分析; (5)XRF定性分析(幫助XRD的物相鑒定);Terra原理簡介XRD原理 (1)每種晶體物質(zhì)都有自己特定晶體結構參數(shù); (2)只有滿足布拉格方程的特定取向的晶面才能產(chǎn)生衍射光束; (3)兩個光源發(fā)出的光互 不干擾,因而各相的衍射花樣互不干擾而只是
機械的疊加。 根據(jù)衍射圖譜,可實現(xiàn)以下分析: (1)衍射峰的位置(2 )及衍射強度 *物相定性分析; *晶格常數(shù)測定; *應力分析(2)衍射峰高度(強度或面積) *物相定量分析 (3)衍射峰角度及晶形 *晶粒直徑 *結晶度Terra性能a)體積小/質(zhì)量輕,適合于現(xiàn)場作業(yè); b)能耗量低(更加高效),無需冷卻系統(tǒng); c)低功率X射線源,壽命更長(10年); d)獲得專利的振動樣品室,樣品準備簡單,樣品顆粒(~50mg),Terra所需粉末粒徑 150um,用研磨機和樣品篩很容易得到; e)沒有移動部件,提升了可靠性,降低了服務要求,無需校準;f)CCD探測器可同時進行X射線熒光檢測; g)靈敏的能量分析:能夠區(qū)分不能用于X射線衍射的光子,X射線熒光測量元素分析范圍(Ca-U),對于給定的礦石物相的分析檢測下限更低; h)測試時間短; i)圖像分辨率高; j)無線傳輸可靠; k)環(huán)境適應性強,能適應火星上惡劣的氣候環(huán)境; l)XRD與XRF相結合,XRF的加入可使相位鑒定過程中的掃描能夠輕松完成,并減少不確定性。同時,XRF對元素的檢測,能進一步對XRD的檢測結果進行佐證,提高了分析的準確性。 系統(tǒng)規(guī)格